А. А. Балакин, Г. М. Фрайман
Институт прикладной физики РАН, Нижний Новгород, Россия
Рассмотрены процессы электрон-ионных столкновений в плазме в сильных полях. Изложены основные соображения в пользу определяющей роли ближних столкновений в таких режимах. Показано, что задача рассеяния определяется двумя параметрами. Численно и аналитически демонстрируются эффекты, обусловленные фокусирующими свойствами кулоновского потенциала и, главное, тому факту, что при многократных осцилляциях в окрестности иона электрон успевает существенно изменить свой прицельный параметр и, следовательно, рассеивается гораздо эффективнее. Показано, что в сильных полях эффект "кулоновского логарифма" отсутствует. Получены оценки для эффективного сечения столкновений, показывающие, что учет фокусирующих свойств кулоновского потенциала приводит к большим сечениям, чем это считалось ранее и, в частности, джоулевы потери в плазме не уменьшаются с ростом поля. Обсуждаются условия экспериментального наблюдения предсказанных.