Прикладная физика
№ 5, 2001

Емкостные токи в приборах, аппаратах и устройствах силовой электроники

Э. Ф. Бурцев
ГУП "Всероссийский электротехнический институт им. В. И. Ленина", Москва, Россия

  Экспериментально показано, что емкостные токи в электрических аппаратах и устройствах при высоких значениях скорости нарастания (спада) напряжения (dU/dt) способствуют появлению барьерных разрядов. Последние приводят к ускоренному старению изоляционных материалов и могут явиться причиной выхода аппаратов из строя вследствие электрического пробоя. Проведен анализ работы электрических конденсаторов в импульсных режимах.

Содержание