Устройства считывания для многоэлементных ИК фотодиодов
В.П. Рева
НИИ микроприборов, г. Киев, УкраинаФ.Ф. Сизов
Институт физики полупроводников, г. Киев, Украина
Обсуждены: - особенности применения наиболее известных из используемых
для предварительной обработки сигналов от многоэлементных инфракрасных фотодиодных
линееек и матриц устройства считывания. Обычно такие устройства включают в себя
схемы сопряжения с инфракрасными (ИК) фотодиодами, схемы предмультиплексной
обработки (накопления, деления, скимминга, антиблюминга), схемы мультиплексирования,
схемы усиления;
- взаимосвязи зависимости эквивалентной шуму разности температур
(noise equivalent difference temperature (NEDT)) фотоприемных устройств (ФПУ)
от параметров фотодиодов и схем сопряжения, требования к технологическим
параметрам устройств считывания.
Показано, что предмультиплексная обработка электрических сигналов от
фотодиодов позволяет расширить динамический диапазон ФПУ, хотя и приводит к ухудшению
их параметров.
Приводятся характеристики работы некоторых устройств считывания в различных
режимах - деления, скимминга, скимминга + деления, и оценки NEDT в этих режимах.
Рассмотрены: - ПЗС регистры, которые обычно применяются в качестве мультиплексоров
в ФПУ с линейками фотодиодов;
- температурные зависимости эффективности переноса для различных
типов ПЗС (с поверхностным и объемным каналом), изготовленных по разным технологическим
маршрутам.