Применение представлений волновой электронной оптики для описания процесса взаимодействия электронов с полем кристаллической решетки

Прикладная физика
№ 4, 2002

Применение представлений волновой электронной оптики для описания процесса взаимодействия электронов с полем кристаллической решетки электронно-микроскопического объекта.
2. Влияние направления в пространстве кристаллической решетки на характер функции пропускания

Т.А.Гришина, О.Д.Потапкин

ФГУДП НИИЭИО ГУП "НПО "Орион", Москва, Россия,

Б.Н.Васичев

Московский институт электроники и математики (Технический университет), Москва, Россия

Анализируются выражения, описывающие функцию парциальной электронно-оптической прозрачности кристаллической решетки, определяемую через Фурье-компоненты поля решетки, связанные с кристаллографическими плоскостями (hkl).

Содержание