Спектры низкочастотного шума высококачественных КРТ фоторезисторов
М. С. Никитин, Г. В. Чеканова
Федеральное государственное унитарное предприятие "Альфа", Москва, Россия
Исследованы спектры низкочастотного фликкер-шума 1/f фотоэлектрических полупроводниковых приемников (ФЭПП) на основе фоторезисторов (ФР) из материала кадмий—ртуть—теллур (КРТ). Спектры фликкер-шума 1/f измерены на ФЭПП с максимумом спектральной чувствительности lmax на длине волны от 3,0 до 5,5 мкм и от 10,5 до 12,0 мкм при рабочей температуре Траб ~ 205–210 К и Траб ~ 78 К, соответственно. Показано, что высококачественные КРТ фоторезисторы характеризуются предельно низким уровнем спектральной плотности шума 1/f, а граничная частота шума 1/f при оптимально высоких значениях фотоэлектрических параметров составляет 10–150 Гц.
Содержание