Применение прецизионных ВАХ для исследования ИК-фоторезисторов Часть I. Разработка метода прецизионных ВАХ

Л. И. Дьяконов, В. В. Пробылов
Федеральное государственное унитарное предприятие "Альфа", Москва, Россия

   Предложен простой метод получения прецизионных вольт-амперных характеристик (ВАХ), удобный для исследований свойств ИК-фоторезисторов (ФР). Метод позволяет в ручном режиме быстро получать таблицу I = f(V) из более чем 40 дискретных значений с точностью до 0,01 %. Таблица ВАХ обрабатывается в ПК в целях коррекции данных, получения зависимости R = f (V) и вычисления рассеиваемой мощности. График R = f (V) более удобен, чем сама ВАХ, для наблюдения свойств ФР при старении, термообработках, изменениях технологии изготовления и т. п.

Содержание