Филачев А. М.
Седьмой Всероссийский семинар "Проблемы теоретической и прикладной
электронной и ионной оптики"
| | 25 |
Болтушкин Е. В., Быковский В. Ф., Кобец А. Г., Коротаев Ю. В.,
Лохматов В. И., Малахов В. Н., Мешков И. Н., Пивин Р. В., Рудаков А. Ю., Селезнев И. А.,
Сидорин А. О., Смирнов А. В., Трубников Г. В., Яковенко С. Л.
Динамика заряженных частиц в магнитном поле стеллатронного типа
| | 27 |
Козлов А. Н., Гайдукова И. С., Уваев А. Г., Щербаков А. В., Филачев А. М.
Вакуумное технологическое оборудование для производства изделий микрофотоэлектроники
| | 32 |
Козлов А. Н., Гринфельд Д. Э., Щербаков А. В., Филачев А. М.
Автоматизированный контроль технологических параметров вакуумного оборудования как обеспечение непрерывного контроля качества
| | 38 |
Козлов А. Н., Зайцев А. И., Даниловский А. Е., Филачев А. М.
Особенности выбора ионных источников с холодным катодом для точной ионно-лучевой обработки полупроводниковых структур
| | 45 |
Свешников В. М.
О расчете интенсивных пучков заряженных частиц методом итераций по
подобластям без налегания
| | 49 |
Гринфельд Д. Э.
Моделирование термоэмиссионных электронных пушек методом конечных элементов
| | 57 |
Гринфельд Д. Э., Монастырский М. А., Тарасов В. А.
Методы возмущений в задачах вычислительной оптики заряженных частиц
| | 64 |
Каган Н. Б., Либерова Г. В., Якунин С. Н.
Электронно-зондовый контроль мостовых структур микроболометрических матриц
| | 75 |
Голиков Ю. К., Краснова Н. К., Соловьев К. В., Елохин В. А., Николаев В. И.
Зоны устойчивости квадрупольного масс-спектрометра в продольном магнитном поле
| | 78 |
Белкин В. М., Завьялов М. А., Сыровой В. А., Чихачев А. С.
Адекватность теории сферического диода
| | 80 |
Боровиков П. В., Григорьев В. Ю.
Моделирование характеристик плазмозаполненных ЛБВ
| | 84 |
Овсянникова Л. П., Фишкова Т. Я., Сурков В. А.
Вытягивающая система источника ионов с отклонением пучка на вход
монопольного масс-анализатора
| | 88 |
Гоев А. И., Потелов В. В., Приваленко В. М., Сеник Б. Н., Тихонравов А. В., Чередниченко О. Б.
Проблемные вопросы адаптации технологического вакуумного оборудования к решению текущих и перспективных задач по изготовлению оптических элементов
| | 92 |
Богомолова Л. Д., Немов А. С., Бородулина Н. В., Борисов А. М., Козлов Д. А., Цыганов Д. И.
Исследование углеродных пленок, получаемых с помощью вакуумно-дугового ионного источника с графитовым катодом
| | 94 |
Журавлева В. Д., Семенов С. О.
Комплекс программ расчета трехмерных электронно-оптических систем
| | 97 |
Борисов С. С, Грачёв Е. А., Блошенко А., Мисютина Т., Зайцев C. И.
Определение параметров подповерхностных структур образца с помощью энергетического спектра вторичных электронов
| | 102 |
Ларионов А. В.
Формирование частично-замагниченного многолучевого пучка в мощном клистроне для
сверхпроводящих линейных электрон-позитронных коллайдеров
| | 105 |
Архипов Д. А., Ильина Е. М., Кудряшов В. П., Роговин В. И., Усов В. Н.
Высокопервеансные электронные пушки для мощных широко-полосных низковольтных ЛБВ с сеточным управлением
| | 109 |
Мельник И. В.
Моделирование геометрии электродных систем высоковольтного тлеющего разряда,
формирующих профильные электронные пучки
| | 112 |
Зайцев Н. И., Иляков Е. В., Кулагин И. С., Мануилов
В. Н. Влияние отраженных от магнитного зеркала электронов на формирование электронного пучка в релятивистском гиротроне
| | 121 |
Дремова Н. Н.
Простая методика определения состава и размерных параметров слоистых структур
| | 126 |
Гагарин Ю. Е., Хомутский В. А., Сначев А. В.,
Дворянчикова Ю. В., Степович М. А.
О возможности интервальной идентификации функциональных зависимостей при исследовании
полупроводниковых материалов в катодолюминесцентной микроскопии
| | 128 |