ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА®

НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ


2022, № 1 Основан в 1994 г. Москва


СОДЕРЖАНИЕ


ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
 
Пименов И.С., Белоусов В.И., Борщеговский А.А., Жарков М.Ю., Неудачин С.В., Рой И.Н., Хайрутдинов Э.Н., Попов Л.Г., Агапова М.В., Бельнова Л.М.
Система ввода СВЧ-излучения гиротронного комплекса токамака Т-15МД на первой стадии работ
  5
Чистолинов А.В., Якушин Р.В., Перфильева А.В.
Свечение второй положительной системы молекулярного азота в разряде с жидким электролитным катодом вблизи поверхности катода в воздухе при атмосферном давлении
  12

ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
 
Саенко А.В., Малюков С.П., Рожко А.А.
Моделирование структуры бессвинцового перовскитного солнечного элемента
  19
Гулаков И.Р., Зеневич А.О., Кочергина О.В.
Исследование пропускной способности оптического канала связи с приемником информации в виде кремниевого фотоэлектронного умножителя в условиях фоновой засветки
  28
Сорокин Д.В., Драгунов Д.Э., Ляпустин М.Ю., Семенченко Н.А., Шарганов К.А.
Методы скоростной обработки видеоизображений с большим разбросом яркостей с использованием ПЛИС
  34
Свиридов А.Н., Сагинов Л.Д.
Универсальные формулы для коэффициентов излучения и интегральных плотностей потоков излучения черных тел и субволновых частиц
  42

ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
 
Исмаилов А.М., Муслимов А.Э.
Ориентационная зависимость процессов травления подложек сапфира
  51
Гавриш С.В.
Импульсный разряд в парах смесей цезия с металлами
  58
Чебан А.Ю.
Технология разработки тонких рудных тел с предварительной лазерной дезинтеграцией прочных горных пород
  64
Кононов М.А., Растопов С.Ф.
Оптическая система контроля роста пленок Si3N4 на кварцевых подложках, нанесенных методом реактивного магнетронного распыления кремниевой мишени
  70

ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
 
Генцелев А.Н., Баев С.Г.
Способы изготовления самонесущих рентгеношаблонов
  75
Воеводин В.В., Ребров И.Е., Хомич В.Ю., Ямщиков В.А.
Электрофизическая установка для электроформования полимерных материалов на диэлектрические подложки посредством смены полярности
  83
Денисов Д.Г.
Анализ влияния ограничительных факторов в методе дифференциального рассеяния при контроле поверхностных неоднородностей субнанометрового уровня профилей оптических деталей
  89


Содержание других выпусков журнала