АНАЛИЗ ВОЗМОЖНОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ СВЕРХВЫСОКОВОЛЬТНОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА СВЭМ-1 ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ МАТЕРИАЛОВ

А. М Филачев

Государственный научный центр "Орион", Москва, Россия

Б. Н. Васичев

Московский государственный институт электроники и математики (технический университет), Москва, Россия

И.С. Макарова, Л. Б. Розенфельд, Е. Е. Чернова-Столярова

Государственное предприятие НИИ электронной и ионной оптики, Москва, Россия

Рассмотрена возможность применения СВЭМ-1 для внесения радиационных дефектов в исследуемые материалы. Проведен расчет режимов работы осветительной системы СВЭМ-1 (ускоряющее напряжение Ј 2 МэВ). Рассмотрены два варианта воздействия на объект: облучение сфокусированным электронным пучком или облучение рентгеновским излучением, возбуждаемым этим электронным пучком. Показано, что в СВЭМ-1 можно получить плотность мощности дозы до 2,5Ч 107 Гр/(мм2 Ч с). При этом удельная плотность мощности рентгеновского излучения, создаваемого электронным пучком, может достигать 3,3Ч 106 Вт/мм2.