Исследование устойчивости тока в автоэмиссионных источниках электронных пучков

В. А. Васин
Федеральное государственное унитарное предприятие «Полигон МТ», пос. Новый Быт, Чеховский район, Московская обл.

Экспериментально исследованы два типа неустойчивости тока в автоэмиссионных источниках электронов. Зарегистрированы долговременные дрейфы тока в узких вакуумных промежутках этих источников. Они объясняются адсорбционно-десорбционными процессами на поверхности катода. Были изучены флуктуации токов эмиссии в источниках со свежими катодами. Зарегистрированы энергетические спектры флуктуаций тока и сравнены с известными законами шумовых спектров эмиссии.

Содержание