№ 1 | Основан в 1994 г. | Москва 2008 |
Векленко Б. А Фликкер-шум и бозонный пик как единый феномен | 5 | |
Харитонов А. С. Структурные свойства макромолекулы в термостате | 13 | |
Грушко Н. С., Потанахина Л. Н. Температурная зависимость средней длины прыжка в структурах на основе InGaN/GaN | 17 | |
Филачев А. М., Сагинов Л. Д., Кононов А. С., Свиридов А. Н., Бакуменко В. Л. Фильтрующее устройство на основе оптических элементов с положительной и отрицательной производными зависимостей углов полного внутреннего отражения от длины волны | 20 | |
Болтарь К. О., Яковлева Н. И., Кашуба А. С., Удалова А. Г. Исследование характеристик эпитаксиальных слоев КРТ по спектрам пропускания | 26 | |
Аскеров К. А., Гаджиева В. И. Влияние ионизирующего излучения на анизотропию электрических свойств селенида индия | 31 |
Марченко В. А. Реактивное магнетронное напыление пленок оксидов ванадия для неохлаждаемых болометров | 35 | |
Зиновьев О. А., Неумывакин Л. В Разработка метода деконтаминации с использованием интегрального воздействия пучково-плазменного разряда на клетки микроорганизмов | 39 |
Гурович Б. А., Приходько К. Е., Кулешова Е. А., Домантовский А. Г., Маслаков К. И. Излучательные и магнитные свойства псевдооднодоменной микро- и нанопаттернированной магнитной среды | 44 |
Демьяненко М. А., Овсюк В. Н. Улучшенный метод выравнивания температурно-индуцированной неоднородности сигналов в матричных микроболометрических приемниках | 54 | |
Соляков В. Н., Жегалов С. И., Сагинов Л. Д., Филачев А. М., Болтарь К. О., Бурлаков И. Д., Свиридов А. Н. Метод коррекции неоднородности многоэлементных фотоприемных устройств по сигналам сцены | 60 | |
Акимов В. М., Васильева Л. А., Каган Н. Б., Климанов Е. А., Курбет И. Ю., Лисейкин В. П., Микертумянц А. Р., Седнев М. В., Серегина Н. Н., Щукин С. В. Методы создания системы металлизации с индиевыми микроконтактами для кремниевых матричных МОП-мультиплексоров | 71 | |
Исмайлов Н. Д., Гусейнов Э. К., Гасанов И. С., Гейдаров С. А. P-n-пeреходы на основе CdxHg1-xTe, полученные облучением низкоэнергетичными ионами индия и аргона | 74 | |
Аракелов Г. А. Некоторые нестандартные применения термоэлектрических охладителей в составе фото-приемников | 77 | |
Новоселов А. Р., Клименко А. Г., Васильев В. В. Применение импульсного УФ-лазера для скрайбирования фотоприемных матриц и линеек на МЛЭ КРТ | 79 | |
Ащеулов А. А., Добровольский Ю. Г., Романюк И. С., Фотий В. Д. Переходные контакты ветвей ТЭМ повышенной прочности на основе кристаллов твердых растворов Bі-Te-Se-Sb | 85 | |
Антипова М. А., Бочков В. Д., Давыдов С. Е., Казарова Ю. А Технологические аспекты сборки матричных фотоэлектронных модулей на основе халькогенидов свинца с применением полимерных материалов | 89 | |
Аветисян Г. Х., Бородин Д. В., Осипов Ю. В. КМОП-мультиплексор с аналоговым ВЗН-режимом для гибридных ФПУ | 92 | |
Васильев В. В., Машуков Ю. П. Гистерезис вольт-фарадных характеристик структур на р-Cd0,27Hg0,73Te с широкозонным варизонным слоем на поверхности | 96 |
Алеев Р. М., Насибуллин Р. А. Сравнение вариантов сканирования в тепловизорах 2-го поколения | 102 | |
Герасюк А. К., Гоев А. И., Гринберг Е. Е., Потелов В. В., Сеник Б. Н., Сухачев А. Б., Ноздрачёв А. В. Исследование технологических факторов, влияющих на качество тонких пленок диоксида кремния в целях повышения эксплутационных характеристик оптических сборок, изготовленных методом глубокого оптического контакта | 106 | |
Бехтин Ю. С., Баранцев А. А., Брянцев A. A., Сагинов Л. Д., Соляков В. Н., Медведев А. С. Алгоритмы цифровой обработки ИК-изображений без калибровки по геометрическому шуму | 110 |