Эволюция представлений о происхождении контраста
в просвечивающей электронной микроскопии

Т.А. Гришина
ГП Научно-исследовательский институт электронной и ионной оптики, Москва, Россия

В.Ю. Гришина
Московский государственный университет, Москва, Россия

   Представлен аналитический обзор методов и аппроксимаций, применявшихся для интерпретации контраста на изображении в просвечивающем электронном микроскопею Рассмотрены механизмы возникновения контраста на изображениях аморфных и кристаллических протяженных объектов, а также факторы, определяющие природу контраста на изображении аморфных структур кристаллической решетки. Проанализированы свойства объекта, ответственные за возникновение на изображении амплитудного и фазового контраста.

Содержание