Анализ факторов, влияющих на точность измерения

электронной яркости

Л. Б. Розенфельд

Научно-исследовательский институт электронной и ионной оптики, Москва, Россия

С. Ю. Шахбазов, И. Ю. Пахомова

Московский институт электроники и математики (Технический университет), Россия

Рассмотрены вопросы количественной оценки ошибок измерения электронной яркости различными методами. Показано, что основная ошибка, возникающая при использовании линзового метода, является следствием неправомерного предположения, что при размещении апертурной диафрагмы в главной плоскости линзы апертурный угол в плоскости изображения может быть вычислен как отношение радиуса диафрагмы к расстоянию между диафрагмой и плоскостью изображения. Проведена количественная оценка ошибки такого приближения и показано, что ошибка расчета апертуры зависит от конструкции измерительной системы, а ошибка определения яркости может достигать +100 %.