ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА®
НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ
| 2022, № 1 | Основан в 1994 г. | Москва |
СОДЕРЖАНИЕ
| Пименов И.С., Белоусов В.И., Борщеговский А.А., Жарков М.Ю., Неудачин С.В., Рой И.Н., Хайрутдинов Э.Н., Попов Л.Г., Агапова М.В., Бельнова Л.М.
Система ввода СВЧ-излучения гиротронного комплекса токамака Т-15МД на первой стадии работ | 5 | |
| Чистолинов А.В., Якушин Р.В., Перфильева А.В.
Свечение второй положительной системы молекулярного азота в разряде с жидким электролитным катодом вблизи поверхности катода в воздухе при атмосферном давлении | 12 | |
| Саенко А.В., Малюков С.П., Рожко А.А.
Моделирование структуры бессвинцового перовскитного солнечного элемента | 19 | |
| Гулаков И.Р., Зеневич А.О., Кочергина О.В.
Исследование пропускной способности оптического канала связи с приемником информации в виде кремниевого фотоэлектронного умножителя в условиях фоновой засветки | 28 | |
| Сорокин Д.В., Драгунов Д.Э., Ляпустин М.Ю., Семенченко Н.А., Шарганов К.А.
Методы скоростной обработки видеоизображений с большим разбросом яркостей с использованием ПЛИС | 34 | |
| Свиридов А.Н., Сагинов Л.Д.
Универсальные формулы для коэффициентов излучения и интегральных плотностей потоков излучения черных тел и субволновых частиц | 42 | |
| Исмаилов А.М., Муслимов А.Э.
Ориентационная зависимость процессов травления подложек сапфира | 51 | |
| Гавриш С.В.
Импульсный разряд в парах смесей цезия с металлами | 58 | |
| Чебан А.Ю.
Технология разработки тонких рудных тел с предварительной лазерной дезинтеграцией прочных горных пород | 64 | |
| Кононов М.А., Растопов С.Ф.
Оптическая система контроля роста пленок Si3N4 на кварцевых подложках, нанесенных методом реактивного магнетронного распыления кремниевой мишени | 70 | |
| Генцелев А.Н., Баев С.Г.
Способы изготовления самонесущих рентгеношаблонов | 75 | |
| Воеводин В.В., Ребров И.Е., Хомич В.Ю., Ямщиков В.А.
Электрофизическая установка для электроформования полимерных материалов на диэлектрические подложки посредством смены полярности | 83 | |
| Денисов Д.Г.
Анализ влияния ограничительных факторов в методе дифференциального рассеяния при контроле поверхностных неоднородностей субнанометрового уровня профилей оптических деталей | 89 |
Содержание других выпусков журнала